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KASAHARA笠原理化SS-10F污泥濃度計
2025-06-09 KASAHARA笠原理化SS-10F污泥濃度計KASAHARA笠原理化SS-10F污泥濃度計鹽度計，用于測量預拌混凝土、砂漿等中的氯化物。可以測量鹽度和氯化物含量。帶自動溫度補償的高性能氯離子電極鹽度和氯化物含量測量測量值記憶功能新開發的長壽命氯離子電極氯離子與氯離子相同。本儀器無法測量余氯。另請注意，無法測量電鍍液中的氯離子。帶自動溫度補償的高性能氯離子電極玻璃電極型參比電極背光功能校準時無需添加ISAB防水結構（相當于IP67）CCS晰寫速SEN日森、EYE巖崎、REVO...
SIBATA柴田科學數字防塵計 LD-6N2環境測量儀器
2025-06-07 SIBATA柴田科學數字防塵計LD-6N2環境測量儀器SIBATA柴田科學數字防塵計LD-6N2環境測量儀器?為了便于工人佩戴，操作部分（電路部分）和檢測部分是分開的。?通過使用探測器的簡單支架將檢測單元固定到操作單元上，可用于各種測量，例如工作場所的灰塵濃度測量。LD-6N2數字粉塵計是一款便攜式粉塵計，用于測量個人暴露于粉塵中的情況。為了便于工人佩戴，操作部分（電路部分）和檢測部分是分開的。測量完成后，可以使用隨附的專用軟件將測量記錄數據導入計算機。此外，通過使用探測器支...
ADVANTEC東洋DRN420DE高精度定溫干燥器
2025-06-07 ADVANTEC東洋DRN420DE高精度定溫干燥器ADVANTEC東洋DRN420DE高精度定溫干燥器通過高精度控制，可高效進行加熱的自然對流式高功能型。特長可簡便地設定程序運行。程序運行中，顯示運行狀況(溫度上升、下降、控制)。除溫度調節器附帶的安全裝置外，還配備熱敏式獨立防過熱裝置，對裝置的過熱進行雙重監視，防止。門可選擇左開(標準規格)、右開，敬請咨詢い。產品保修為4年保修(規格變更產品除外)。CCS晰寫速SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克S...
AND愛安德緊湊型天平EK-6100i
2025-06-07 AND愛安德緊湊型天平EK-6100iAND愛安德緊湊型天平EK-6100i緊湊、高分辨率、可選的內置電池，無論在何處使用，都可以使用EK-120i/EK-200i/EK-300i/EK-410i/EK-610i為圓板（Φ110mm）EK-600i/EK-1200i/EK-2000i/EK-3000i/EK-4100i/EK-6100i/EK-6000i/EK-12Ki方板（170mm×133mm）?標配RS-232C接口?g、數字、%、3個顯示可切換?具有“HI”、...
USHIO牛尾紫外線照射燈USH-350DP
2025-06-07 USHIO牛尾紫外線照射燈USH-350DPUSHIO牛尾紫外線照射燈USH-350DPUshio的超高壓紫外線燈是為了有效利用三種紫外線波長（436nm、405nm和365nm）而開發的，是壽命長、輻照度穩定的高亮度光源。由于圓弧尺寸極其接近點光源，因此很容易使光學系統中的光線集中和擴散，從而產生均勻的照度分布。半導體電路形成用光源液晶圖案形成用光源彩色濾光片圖案形成用光源印刷電路板電路形成用光源MEMS圖案形成用光源熒光顯微鏡用光源紫外線固化用光源其他新型曝光用途等。
NICHIAS霓佳斯 TOMBO No. 1836R-GS高溫復合填料螺旋墊片
2025-06-07 NICHIAS霓佳斯TOMBONo.1836R-GS高溫復合填料螺旋墊片NICHIAS霓佳斯TOMBONo.1836R-GS高溫復合填料螺旋墊片通過將填充材料中含有抗氧化劑的充氣石墨（玻璃）帶與氧阻隔層（云母層）相結合，防止在高溫下失去冰川氧化，它是一種渦流墊片，即使在450°C或更高的高溫條件下也可以使用。當工作溫度低于450°C時，建議使用普通的GlassilVortex墊片。一種墊圈，由稱為箍的V形細金屬條和稱為填充物的緩沖材料交替層制成，并將它們以螺旋形狀纏繞在它們周...
日本ohno bellows大野NSBA10C-BW-NC-SUS316L-EP 25A調節閥
2025-06-06 ohnobellows大野NSBA10C-BW-NC-SUS316L-EP25A調節閥ohnobellows大野NSBA10C-BW-NC-SUS316L-EP25A調節閥在核能、石油化學、重電（電力）行業等需要保護環境的領域，我們不允許泄漏到外部。在管道中不易泄漏的重要部位，大野波紋管工業的產品被用作“不能或缺的設備"。波紋管閥的特點有助于更好地保護環境杜絕外漏問題通過內置波紋管，內部和外部被封閉和密封，因此不會從地面部分泄漏。安全管理它非常適合防止有毒氣體泄漏、爆炸和放射...
INTECS英特斯鹵素檢驗燈UIH-3D
2025-06-06 INTECS英特斯鹵素檢驗燈UIH-3DINTECS英特斯鹵素檢驗燈UIH-3D當物體（*1）暴露在高強度光下時，會發生廷德爾現象，并且可以很容易地目視檢查表面的劃痕和碎屑，以及內部的異物和氣泡。*1：半導體晶圓、掩模玻璃、硬盤、LCD面板、鏡頭等！燈額定值100V650W設計輻射直徑和距離距燈筒270mm時φ100mm最大亮度上述照射直徑中心約300,000lux500,000lux時的照射直徑約φ80mm徑向距離和亮度560mm約75,000lux明亮度偏差和可變寬度最大...

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